3月27日，為期三天的SEMICON China 2026在上海新國際博覽中心落下帷幕。御微半導體攜全系列量檢測設備及年度新品Raptor-500亮相，展臺累計接待專業觀眾超1000人，線上直播觀看量突破3000人次。

御微榮獲“2026年度新銳企業獎”

新品發布

Raptor-500重磅亮相

3月25日下午，“全景守護，全程可控——Raptor-500 掩模版質量管理解決方案”新品發布會舉行。公司領導與項目負責人共同啟動能量柱，為新品揭幕。

展臺接待有序

解決方案獲關注

開展首日，御微展臺迎來眾多專業觀眾。模型區內，工程師圍繞六款核心設備進行講解；洽談區內，銷售團隊與客戶交流產線需求；前臺咨詢處，參觀者有序掃碼、領取資料。

御微之聲

聚焦量檢測挑戰

展會期間，御微展臺每日舉辦技術講座，聚焦“降本增效”與“良率提升”，從工藝演進的前瞻視角到AI賦能的實際落地，全程高能輸出，為現場及線上觀眾帶來專業分享。

由市場總監曾安生帶來《Logic工藝技術演變淺談——從Planar CMOS到GAA》的演講分享，系統梳理了從平面到FinFET，再到3nm以下GAA結構的演進脈絡，并重點剖析了工藝升級帶來的量檢測新挑戰；面對GAA時代的技術極限，御微已形成覆蓋掩模基板制造、掩模版制造、芯片制造、先進封裝四大領域的量檢測設備矩陣。為每一代工藝節點提供與之匹配的量檢測解決方案，助力客戶在更小節點、更復雜結構下實現高效、精準的質量控制。

由助理總裁聶秋平帶來《全生命周期解決方案——御微助力光掩模客戶降本增效》的演講分享，深度介紹了光掩模從基板到出廠的全生命周期質量控制需求，系統回顧了圖形缺陷檢測裝備的發展歷程，并展示了御微覆蓋基板制造、掩模版制造與光刻掩模控制三大場景的完整解決方案。

由先進封裝部系統集成工程師劉云芳帶來《御微助力先進封裝工藝節點提升》演講，介紹先進封裝量檢測市場快速增長趨勢，圍繞高密度Bump量測、復雜背景殘膠檢測、高深寬比TSV量測及混合鍵合Cu Dishing量測等關鍵工藝挑戰，系統梳理先進封裝量檢測技術現狀與發展方向，為工藝節點升級提供技術路徑與解決思路。

由產品事業部總經理趙赫帶來《晶圓量檢測方案助力集成電路制造良率提升》的演講分享，圍繞晶圓制造全流程，系統介紹了御微在圖形晶圓缺陷檢測、套刻誤差量測、原子力顯微鏡量測等領域的產品布局，并結合實際客戶案例展示了設備在靈敏度、產率、智能化等方面的差異化優勢。

由算法工程師韓晶晶帶來《從“看見”到“自主”閉環：量檢測解決方案的AI自動駕駛之路》的演講分享，系統闡述了量檢測能力從感知、判斷、決策到自優化的四層AI演進路徑，提出機臺側AI與服務器端AI協同的智能架構，并結合套刻量測、掩模圖形檢測等典型案例，展示了AI如何助力量檢測從“工具能力”邁向“自動駕駛式智能系統”。

線上線下聯動

覆蓋更多觀眾

展會期間，每日展臺講座及新品發布會均通過視頻號同步直播，累計觀看量突破3000人次，評論區踴躍互動。直播云游展臺環節，主持人帶領線上觀眾探訪多家公司，與現場技術專家互動。

展會落幕

步履不停

SEMICON China 2026雖已落幕，御微將繼續深耕半導體量檢測領域，為全球客戶提供質量控制系統解決方案。